電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產(chǎn)品詳細頁(yè)
顆粒圖像分析儀

顆粒圖像分析儀

  • 產(chǎn)品型號:ZKFT-1600
  • 更新時(shí)間:2024-07-18
  • 產(chǎn)品介紹:顆粒圖像分析儀
    產(chǎn)品特點(diǎn):
    *出色的外觀(guān)設計,符合人機工程學(xué)的結構設計
    *機身一體化的設計,使產(chǎn)品長(cháng)期保持優(yōu)異穩定性能
    *優(yōu)質(zhì)的3WLED照明,穩定和超常使用壽命
    *無(wú)限遠色差校正光學(xué)系統,普通光學(xué)校正系統,可滿(mǎn)足不同用戶(hù)的需求
  • 在線(xiàn)留言 010-57223836/57223838

產(chǎn)品介紹


顆粒圖像分析儀

型號:ZKFT-1600


一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

     ZKFT-1600圖像顆粒分析系統包括光學(xué)顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術(shù)結合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過(guò)專(zhuān)用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來(lái)并傳輸到電腦中,通過(guò)專(zhuān)門(mén)的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進(jìn)行處理與分析,從而得到每一個(gè)顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個(gè)顆粒的粒度和粒形信息進(jìn)行統計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長(cháng)徑比及長(cháng)徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。顆粒圖像分析儀

       

四、測試原理

    • 標定方法:用顯微鏡專(zhuān)用標準刻度尺直接標定每個(gè)像素的尺寸,再根據每個(gè)顆粒圖像面積所占的像素多少來(lái)度量顆粒的大小,以微米為單位。

    • 測試原理:通過(guò)對顆粒數量和每個(gè)顆粒所包含的像素數量的統計,計算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積,從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(cháng)徑比等。為計算方便,ZKFT-1600圖像顆粒分析儀是以100個(gè)像素為一個(gè)計量單位的。

五、主要技術(shù)指標與性能

生物顯微鏡詳細介紹

光學(xué)系統

無(wú)限遠色差校正光學(xué)系統/普通光學(xué)校正系統

觀(guān)察

目鏡筒

鉸鏈式雙目頭或三目頭,30°傾斜,瞳距50-75mm

阿貝式聚光鏡組

(可帶插板式的相襯,暗場(chǎng),偏光附件接口)目鏡高眼點(diǎn)平場(chǎng)目鏡

物鏡平場(chǎng)消色差平場(chǎng)消色差物鏡4X,10X,40X,100X物鏡轉換向內四孔或五孔

載物工作臺220X148mm低手位雙層X(jué)軸鋼絲傳動(dòng)機械移動(dòng)平臺,行程76X50mm,精度0.1mm,阻尼 式雙切片夾

調焦機構同軸粗微調焦機構,微調格值0.002mm

照明裝置3WLED燈亮度連續可調的柯勒照明系統成套性

序號名稱(chēng)數量












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